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Breite Prozessfenster 0,03 mm Pd beschichtet Kupferdraht BGA Halbleiter Test Socket Bindungsdraht

Breite Prozessfenster 0,03 mm Pd beschichtet Kupferdraht BGA Halbleiter Test Socket Bindungsdraht

Pd-beschichteter Kupfer-Bonddraht

0.03mm BGA-Prüfsockeldraht

Breitprozessfenster Halbleiterdraht

Herkunftsort:

China

Markenname:

WINNER

Zertifizierung:

ISO9100

Modellnummer:

PW-12

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Produktdetails
Paket:
Spule
Oberflächenbeschaffenheit:
Hell
Korrosionsbeständigkeit:
Hoch
Verfügbarkeit:
Sondergrößen verfügbar
Material:
Kupfer
Produkttyp:
Bindungsdraht
Beschichtung:
Palladium
Länge Meter:
500/1000
Temperaturbereich:
-40 ° C bis 200 ° C.
Leitfähigkeit:
98 %
Packungsgröße:
100 Meter
Bindungsstärke:
Hoch
Hervorheben:

Pd-beschichteter Kupfer-Bonddraht

,

0.03mm BGA-Prüfsockeldraht

,

Breitprozessfenster Halbleiterdraht

Zahlungs-u. Verschiffen-Ausdrücke
Min Bestellmenge
1 Stk
Preis
999
Verpackung Informationen
Rollen, Neutrienverpackung oder mit OEM -Logo
Lieferzeit
5-8 Werktage
Zahlungsbedingungen
L/C, Western Union, T/T -Versorgungsfähigkeit
Versorgungsmaterial-Fähigkeit
100000 Rollen pro Monat
Produkt-Beschreibung

Breite Prozessfenster 0,03 mm Pd beschichtet Kupferdraht BGA Halbleiter Test Socket Bindungsdraht

Anpassungsfähig an verschiedene Parameter der Bindemaschine, hohe Stichziehfestigkeit für BGA-Halbleiter-Prüfsockelverpackungen.


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