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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe

2A Current Rating Test Probe

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Herkunftsort:

China

Markenname:

WINNER

Zertifizierung:

ISO9100

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing
Produktdetails
Produktname:
Probe für die Federprüfung
Fass:
PB, vergoldet
Unterer Kolben:
BeCu/SK4, vergoldet
TOP-Kolben:
SK4 (Be Cu)/vergoldet
FRÜHLING:
SWPB(SUS)/vergoldet
Verfügbarkeit:
Benutzerdefinierte Größen verfügbar
Beschichtung:
Vergoldet
Aktuelle Bewertung:
2a
Kontaktwiderstand:
100 Mohm max
Bandbreite:
-0,44 dB bei 19,6 GHz
Induktivität:
1,36 nH
Kapitän:
1,76 pF
Voller Hub:
1,8 mm
Nennschlag:
1,8 mm
Federkraft:
40 Gramm bei 1,8 mm
Mechanische Lebensdauer überschreitet:
200k
Hervorheben:

Gold Plated Spring Test Probe

,

2A Current Rating Test Probe

,

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Zahlungs-u. Verschiffen-Ausdrücke
Min Bestellmenge
3000pcs
Preis
999
Verpackung Informationen
Neutrienverpackung oder mit OEM -Logo
Lieferzeit
5-8 Werktage
Zahlungsbedingungen
L/C, Western Union, T/T
Versorgungsmaterial-Fähigkeit
100000 Rollen pro Monat
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Produkt-Beschreibung
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DB81-01C0
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 0
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 1
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 2
Detailed Component Illustration
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 4
Our probe manufacturing facility
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 5
Quality control inspection
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 6
Packaged probes ready for shipment
Umbauten：

Elektrotechnik mit vergoldetem Wolframdraht

0.01mm Wolframdraht FuE

Elektronik aus vergoldetem Molybdändraht

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Telefon：86-158-1857-6616
E-Mail：sales@winner-sc.com
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